简述X-ray检测仪中的X射线穿透检测原理-卓茂科技

X-ray检测仪不仅可以对各种传感器进行透视检查，还可以对各种电子元件进行无损检测，功能齐全。电子设备制造商通常在购买x光机后检查大部分部件，大大节省了检测设备的采购成本。

那么用于传感器的X光检查机内部的X光是如何产生如何检测的呢？这实际上来自于内部X射线机产生的X射线。X射线属于一种电磁波，其波长较短，波长范围在0.0006--80nm之间，这种电磁波具有很强的穿透能力，可以穿透不同密度的物质，并且对于一些可见光不能穿透的物品也具有良好的穿透性。这种肉眼看不见的射线可以使许多固体材料产生可见的光，使照片底片感光以及空气电离等效应。

因此，当我们看到x光检测仪检查部件时，就能看到黑白分明的照片。

X光的产生是用加速后的电子碰撞金属目标。在碰撞过程中，电子突然减速，失去的动能(其中1%)以光子的形式释放，产生X光谱的连续部分，称为制动辐射。随着加速电压的增加，电子携带的能量增加，金属原子的内部电子可能会被撞出。因此，内层产生孔隙，表层电子跳回内层填充孔隙，同时释放波长约0.1纳米的光子。一般工业上都会用铅来阻挡X光的外泄。

目前，随着智能手机、消费电子、物联网、汽车电子和通用技术的快速发展，对检测精度、准确性和检测效率的要求也在上升。过去，依靠人工检查来识别产品，很难适应快节奏、自动化装配线工作，特别是劳动力成本和检测效率短、检测限制难以突破。现在有了X-RAY检测技术，人工成本大大降低，检测效率迅速提高，检测技术取得突破。

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